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NAND Flash位翻轉(zhuǎn)是什么?一文讀懂其原理與應(yīng)對(duì)

發(fā)布時(shí)間:2025-12-16 來源:轉(zhuǎn)載 責(zé)任編輯:lily

【導(dǎo)讀】設(shè)備運(yùn)行中的“間歇性故障”往往令人困惑——開機(jī)異常、程序紊亂,可重新燒錄固件后一切又恢復(fù)正常。當(dāng)這樣的問題與NAND Flash存儲(chǔ)介質(zhì)相遇時(shí),“位翻轉(zhuǎn)”這一易被忽視的技術(shù)現(xiàn)象,很可能就是幕后根源。本文將從NAND Flash的工作原理切入,清晰闡釋位翻轉(zhuǎn)的本質(zhì)、誘發(fā)因素,進(jìn)而聚焦ECC校驗(yàn)這一核心解決方案,并結(jié)合ZLG致遠(yuǎn)電子M3352核心版的實(shí)踐案例,帶您了解如何應(yīng)對(duì)此類存儲(chǔ)相關(guān)故障。


NAND Flash的工作原理

NAND Flash是一種基于數(shù)據(jù)絕緣存儲(chǔ)的存儲(chǔ)技術(shù)。當(dāng)需要寫入數(shù)據(jù)時(shí),施加電壓會(huì)形成電場(chǎng),使電子能夠穿越絕緣體進(jìn)入存儲(chǔ)單元,從而完成數(shù)據(jù)寫入。而當(dāng)需要?jiǎng)h除存儲(chǔ)單元的數(shù)據(jù)時(shí),同樣需要施加電壓,以引導(dǎo)電子穿越絕緣層離開存儲(chǔ)單元。


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什么是位翻轉(zhuǎn)?

位翻轉(zhuǎn)是指在NAND Flash存儲(chǔ)單元中,由于長期使用、電壓變化、物理效應(yīng)等因素,存儲(chǔ)單元內(nèi)的電子狀態(tài)發(fā)生意外變化的現(xiàn)象。例如,本應(yīng)存儲(chǔ)為0的狀態(tài)可能被意外變成1,或者反之。這種變化會(huì)導(dǎo)致數(shù)據(jù)讀取錯(cuò)誤,進(jìn)而引發(fā)設(shè)備異常運(yùn)行、啟動(dòng)問題等。1. 位翻轉(zhuǎn)的原因位翻轉(zhuǎn)的出現(xiàn)通常源于以下幾個(gè)原因:


漂移效應(yīng):長期使用過程中,電子在存儲(chǔ)單元內(nèi)的漂移可能導(dǎo)致狀態(tài)變化。頻繁讀寫操作:對(duì)某一區(qū)域的頻繁讀寫操作會(huì)加速存儲(chǔ)單元的老化。存儲(chǔ)單元壽命耗盡:隨著使用時(shí)間的增加,存儲(chǔ)單元的絕緣層逐漸退化,導(dǎo)致電子狀態(tài)不穩(wěn)定。

2. 解決方案:ECC校驗(yàn)機(jī)制為了解決位翻轉(zhuǎn)問題,一種常見的方法是引入ECC(Error-Correcting Code)校驗(yàn)機(jī)制。ECC校驗(yàn)機(jī)制能夠檢驗(yàn)所讀取數(shù)據(jù)的正確性,并在一定范圍內(nèi)糾正錯(cuò)誤。具體來說:


ECC校驗(yàn)算法:通過在數(shù)據(jù)中添加冗余信息,ECC算法可以在讀取數(shù)據(jù)時(shí)檢測(cè)并糾正錯(cuò)誤。例如,8位ECC校驗(yàn)算法可以糾正小于8位的位翻轉(zhuǎn)問題。備份分區(qū):對(duì)于超過8位的數(shù)據(jù)位翻轉(zhuǎn),系統(tǒng)可以從備份分區(qū)啟動(dòng)并恢復(fù)壞區(qū),從而保障系統(tǒng)不會(huì)因NAND Flash位翻轉(zhuǎn)而導(dǎo)致啟動(dòng)問題。

  ZLG致遠(yuǎn)電子M3352核心版解決方案

為了應(yīng)對(duì)NAND Flash位翻轉(zhuǎn)可能帶來的啟動(dòng)異常等問題,ZLG致遠(yuǎn)電子M3352核心版提供了有力的解決方案。該核心版在U-Boot中支持8位ECC校驗(yàn)算法,能夠有效糾正小于8位的位翻轉(zhuǎn)問題。對(duì)于更嚴(yán)重的情況,系統(tǒng)將從備份分區(qū)啟動(dòng)并恢復(fù)壞區(qū),從而確保設(shè)備的穩(wěn)定運(yùn)行。


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通過這些技術(shù)手段,ZLG致遠(yuǎn)電子M3352核心版能夠有效解決NAND Flash位翻轉(zhuǎn)問題,保障設(shè)備的穩(wěn)定性和可靠性。


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M335x-T系列工業(yè)級(jí)核心板


NAND Flash位翻轉(zhuǎn)雖由存儲(chǔ)單元電子狀態(tài)微變引發(fā),卻會(huì)嚴(yán)重影響設(shè)備運(yùn)行,是嵌入式設(shè)備可靠性的關(guān)鍵課題。其發(fā)生有必然性,但通過ECC校驗(yàn)與備份分區(qū)可有效管控。ZLG致遠(yuǎn)電子M3352核心版的落地解決方案印證了這一點(diǎn),也提示我們?cè)谇度胧皆O(shè)計(jì)中需針對(duì)存儲(chǔ)特性預(yù)設(shè)防護(hù),以保障設(shè)備穩(wěn)定、降低運(yùn)維成本。

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