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IHS:住宅網(wǎng)關(guān)將取代機頂盒
據(jù)IHS iSuppli公司的消費平臺專題報告,預(yù)計住宅網(wǎng)關(guān)將取代機頂盒,成為數(shù)字客廳中的新中心,該網(wǎng)關(guān)市場從2012到2015年將增長兩倍。
2012-02-22
住宅網(wǎng)關(guān) 機頂盒 數(shù)字客廳
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我國物聯(lián)網(wǎng)蘊含巨大商機
目前,我國物聯(lián)網(wǎng)發(fā)展處于起步階段?!兑?guī)劃》提出,到2015年,我國要在核心技術(shù)研發(fā)與產(chǎn)業(yè)化、關(guān)鍵標(biāo)準(zhǔn)研究與制定、產(chǎn)業(yè)鏈條建立與完善、重大應(yīng)用示范與推廣等四大領(lǐng)域取得顯著成效。初步形成創(chuàng)新驅(qū)動、應(yīng)用牽引、協(xié)同發(fā)展、安全可控的物聯(lián)網(wǎng)發(fā)展格局。
2012-02-17
物聯(lián)網(wǎng) RFID
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優(yōu)化無線基站中功率放大器的性能與效率
將無線信號從基站發(fā)射出去的基站功率放大器(PA)占基站成本的比例高達30%。在無線信號到達基站PA之前實施振幅因數(shù)降低(CFR)與數(shù)字預(yù)失真(DPD)技術(shù)可提高基站信號的質(zhì)量并擴大覆蓋范圍,同時還能降低系統(tǒng)的購置與運行成本。
2012-02-16
無線基站 功率放大器 PA CFR DPD
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NFC的架構(gòu)與規(guī)范詳解
近年來由于手機的功能與普及度快速的成長,使早期的電子錢包有了推廣的機會點。NFC的演進取自于RFID的特定頻段,由于手機的市場應(yīng)用使的NFC可在較快的時間點取得標(biāo)準(zhǔn)接口與平臺,本文將針對NFC的架構(gòu)與規(guī)范做討論。
2012-02-15
NFC 電子錢包 NFC架構(gòu) NFC規(guī)范
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基于加載技術(shù)在天線小型化設(shè)計
隨著現(xiàn)代軍事通信系統(tǒng)中跳頻、擴頻等技術(shù)的應(yīng)用,天線作為通信設(shè)備的前端部件,對通信質(zhì)量起著至關(guān)重要的作用。然而傳統(tǒng)的天線形式和功能在一定程度上不能跟上通信系統(tǒng)小型化的發(fā)展需求,尋求天線的全向性、小型化、寬帶化、共用化成為天線研究中一個重要課題。
2012-02-14
加載技術(shù) 天線 帶寬 RLC
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運營商趕搭手機支付
“移動支付”風(fēng)潮從國外刮來,國內(nèi)的用戶早已翹首以待。用手機綁定銀行卡,輕輕一刷就能完成所有交易,用戶腦海中版圖早已定型。然而,一切都沒有那么簡單。盡管各大運營商已馬不停蹄地追趕海外的成熟市場,但必須得承認(rèn),國內(nèi)的手機支付行業(yè)仍有很大的一段距離要走。
2012-02-13
運營商 手機支付
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安捷倫科技宣布Bluetest 支持Agilent PXT 進行LTE OTA測試
安捷倫科技公司宣布 Bluetest AB 現(xiàn)已支持 Agilent PXT 無線通信測試儀。Bluetest RTS(混響測試系統(tǒng))使用 Agilent PXT 測試儀來測評 LTE OTA器件。在商業(yè)部署之前,需要對 LTE 用戶設(shè)備進行 OTA 測試以測評和改進性能。Bluetest 針對這些測量挑戰(zhàn)提供各種快速、精確的解決方案。
2012-02-10
安捷倫 Bluetest Agilent PXT LTE OTA
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業(yè)界首部《微波與射頻行業(yè)大全》正式啟動
經(jīng)過近半年的籌備,業(yè)界首部行業(yè)大全2012《微波與射頻行業(yè)大全》(簡稱《大全》)正式在深圳啟動?!洞笕烦跗趯⒂∷?萬本,預(yù)計在2012年5月7日在深圳會展中心舉辦的2012微波毫米波成果展上進行首發(fā)。
2012-02-09
微波 射頻 中國電子展 CEF2012SZ
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2012微波射頻測試與測量研討會-深圳站4月11日正式啟動
由微波射頻網(wǎng)(mwrfchina.com)與中國電子展聯(lián)合主辦的2012微波射頻測試與測量研討會-深圳站(4月11日 深圳會展中心6樓)正式啟動。本次會議主題將圍繞“新環(huán)境下如何應(yīng)對嚴(yán)峻的微波與射頻測試技術(shù)挑戰(zhàn)” 展開,誠邀微波射頻產(chǎn)品經(jīng)理、技術(shù)總監(jiān)、設(shè)計工程師、無線技術(shù)工程師、測試認(rèn)證研究人員等業(yè)界...
2012-02-08
微波 射頻 測試 測量 中國電子展 CEF2012SZ
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